【創(chuàng)新前沿】僅1顆外圍的AC過零檢測芯片
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PN1000方案六大亮點(diǎn)
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BOM精簡：僅需1個(gè)外圍元器件，便于生產(chǎn)加工和小型化設(shè)計(jì)
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寬輸入電壓：AC輸入電壓75~300Vac
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高精度檢測技術(shù)：內(nèi)置高精度過零檢測電路
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高可靠性：ACIN耐壓700V，ACZO ESD大于3.5KV
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智能保護(hù)：輸出過載保護(hù)、短路保護(hù)、開路保護(hù)、過溫保護(hù)
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超低待機(jī)功耗：小于30mW
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PN1000方案過零檢測原理
PN1000是一款過零檢測專用芯片，內(nèi)置有700V高耐壓功率管和高精度的過零檢測電路，具有極低的待機(jī)功耗。工作時(shí)，芯片ACIN端子通過一個(gè)限流電阻接在市電一個(gè)輸入端，芯片GND端子連接市電另外一個(gè)輸入端同時(shí)也連接應(yīng)用系統(tǒng)地，芯片ACZO端子輸出過零信號。在市電輸入電壓正半周期，ACIN端子電壓大于GND端子電壓，內(nèi)部檢測電路會產(chǎn)生一個(gè)5V左右的電壓信號并通過ACZO端子輸出；在市電輸入電壓負(fù)半周期，ACIN端子電壓小于GND端子電壓，內(nèi)部檢測電路處于截止?fàn)顟B(tài)，同時(shí)ACZO端子輸出一個(gè)接近0V電壓信號。PN1000通過這種實(shí)時(shí)檢測輸入電壓正負(fù)周期變化，輸出一個(gè)高精度的過零點(diǎn)信號，可直接送給如MCU控制器來進(jìn)行處理。
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Demo實(shí)物圖及圖紙
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PN1000方案與三極管過零檢測方案BOM及性能對比
4.1三極管過零檢測方案線路圖
4.2 Bom比對
PN1000方案比三極管過零檢測方案省6顆元件，易于小型化設(shè)計(jì)。
4.3 過零檢測芯片與三極管過零檢測主要性能對比
5?
過零檢測芯片測試數(shù)據(jù)
5.1 過零工作波形
測試條件：Vin＝115/230Vac
測試波形如下：CH1:AC_zero，CH4:AC_input
115Vac過零波形
230Vac過零波形
5.2 EFT測試
測試條件：Vin=230Vac，EFT 4KV；
測試結(jié)果：PASS
5.3 Surge測試
測試條件：Vin=230Vac，差模雷擊2KV；
測試結(jié)果：PASS
5.4 EMI測試
測試條件：Vin=230Vac，PN1000過零檢測芯片搭配Buck-Boost電源5V/0.2A系統(tǒng)測試
測試結(jié)果：滿足EN55022 Class B標(biāo)準(zhǔn)要求
L相線
N相線
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應(yīng)用要點(diǎn)
1 ?PN1000 僅適用于單二極管或者兩顆二極管直接串聯(lián)的半波整流系統(tǒng)。
2 ?ACIN通過1顆電阻接到輸入整流二極管之前，繞線保險(xiǎn)電阻和壓敏電阻之后，GND腳直接接系統(tǒng)輸出地，推薦電阻值10K/1206。
3 ?ACIN腳與ACZO、GND腳走線之間需要滿足安規(guī)要求, 推薦2.5mm以上的爬電距離。
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